Vědecké výzkumy v mikroskopii atomárních sil

Původní název:

Scientific Researches in Atomic Force Microscopy

Obsah knihy:

Tato kniha objasňuje vědecký výzkum v oblasti mikroskopie atomárních sil.

Vynález mikroskopu atomárních sil (AFM) přinesl drastické změny v oblasti analýzy povrchů. Ukázalo se, že jde o zásadní výzkumný prostředek a metodu, která se používá pro kvalitativní a kvantitativní studium povrchů se subnanometrovým rozlišením.

Vzorky analyzované tímto mikroskopem navíc nepotřebují předchozí přípravné postupy. To zabraňuje jakýmkoli změnám nebo nepříznivým vlivům, které by mohly poškodit vzorek, a zároveň umožňuje trojrozměrné studium vnějšího povrchu. Tato kniha představuje nejnovější práce mistrů této metody z celého světa.

Tato metoda našla snadno uplatnění při získávání důležitých informací v nejrůznějších oborech. Od svého vzniku v roce 1986 našla mnohostranné využití ve výrobě, výzkumu a v oblastech pokroku.