Skenovací elektronová mikroskopie a rentgenová mikroanalýza: Třetí vydání

Recenze čtenářů

Kniha o rastrovací elektronové mikroskopii (SEM) získává od uživatelů převážně kladné recenze, přičemž mnozí chválí její přehlednost, uspořádání a komplexnost. Je označována za definitivní příručku pro začátečníky i zkušené uživatele. Uživatelé oceňují ilustrace a srozumitelný styl psaní, díky němuž jsou složité pojmy přístupnější. Některé kritiky však zmiňují mnohomluvnost a problémy se stavem některých obdržených výtisků.

⬤ Přehledné a informativní
⬤ jasný a stručný text
⬤ snadné použití pro začátečníky i zkušené uživatele
⬤ vynikající ilustrace
⬤ komplexní pokrytí základů a technik SEM
⬤ rychlé dodání
⬤ dobrý stav nových výtisků.

⬤ V některých recenzích je občas zmiňována mnohomluvnost
⬤ několik výtisků bylo doručeno v méně než bezvadném stavu
⬤ doba dodání od Amazonu byla delší, než se očekávalo.

(na základě 24 hodnocení čtenářů)

Původní název:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Obsah knihy:

Tato kniha je ideálním učebním textem pro studenty i odborníky z praxe a představuje komplexní úvod do oblasti rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) a rentgenové mikroanalýzy.

Text byl použit při výuce více než 3 000 studentů v krátkém kurzu SEM v Lehigh a tisíců studentů bakalářského a magisterského studia na univerzitách po celém světě. Autoři kladou důraz na praktické aspekty popisovaných technik.

Probíraná témata zahrnují uživatelsky řízené funkce rastrovacích elektronových mikroskopů a rentgenových spektrometrů a využití rentgenového záření pro kvalitativní a kvantitativní analýzu. Samostatné kapitoly se zabývají metodami přípravy vzorků SEM pro tvrdé materiály, polymery a biologické vzorky.